蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察--残留酸素の影響
Bibliographic Information
- Other Title
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- ケイコウ ソクテイ ニ ヨル ポリフルオレン ハクマク ノ ヒカリ レッカ カテイ ノ カンサツ ザンリュウ サンソ ノ エイキョウ
- Photodegradation dynamics of polyfluorene thin films studied by means of photoluminescence spectroscopy: influence of residual oxygen
- 有機エレクトロニクス
- ユウキ エレクトロニクス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (463), 17-20, 2011-03-08
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833754919424
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- NII Article ID
- 110008689577
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 11046150
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
