Stress modulation of silicon nitride film by initial deposition conditions for transistor carrier enhancement
書誌事項
- タイトル別名
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- Special issue: Advanced metallization for ULSI applications
- Special issue Advanced metallization for ULSI applications
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説明
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics : JJAP
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Japanese journal of applied physics : JJAP 49 (5), 2010-05
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833980850048
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- NII論文ID
- 40017116178
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- NII書誌ID
- AA12295836
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- ISSN
- 00214922
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- NDL書誌ID
- 10683154
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
