微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27)
書誌事項
- タイトル別名
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- ビシュウドウ キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ : ジケイレツ ヘンドウ データ ノ カイセキ(27)
- Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using Micro-Sliding Mechanisms : Analysis of Time-Sequential Fluctuation Data (27)
- 機構デバイス
- キコウ デバイス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (415), 9-14, 2013-01-25
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853834148547072
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- NII論文ID
- 110009728153
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 024261688
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles