インサーキット試験機能を取り入れ需要が復活するファンクション・テスタ
書誌事項
- タイトル別名
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- インサーキット シケン キノウ オ トリイレ ジュヨウ ガ フッカツスル ファ
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説明
記事分類: 電気工学--電気測定
収録刊行物
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (391), p267-275, 1986-03
東京 : 日経BP
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853835212479232
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- NII論文ID
- 40002803384
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- NII書誌ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL書誌ID
- 3067238
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles