直線集束ビーム超音波顕微鏡によるSAWデバイス用LiNbO3,LiTaO3単結晶基板の評価・選別
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- チョクセン シュウソク ビーム チョウオンパ ケンビキョウ ニ ヨル SAW デバイスヨウ LiNbO3 LiTaO3 タンケッショウ キバン ノ ヒョウカ センベツ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 99 (313), 1-8, 1999-09-20
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853835218597632
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- NII Article ID
- 10000145647
- 110003188275
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 4874579
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
