Electrical and Structural Analyses of Solution-Processed Li-Doped ZnO Thin Film Transistors Exposed to Ambient Conditions

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520854804706308224

• NII論文ID

  10031140439

• NII書誌ID

  AA12295133

• ISSN

  18820778

  18820786

• DOI

  10.7567/apex.6.011101

• NDL書誌ID

  024217403

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/024217403

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024217403

  http://stacks.iop.org/1882-0786/6/i=1/a=011101/pdf

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZM35(科学技術--物理学)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • Crossref
  • CiNii Articles