シリコン,ゲルマニウム単結晶の破砕層 X線2回反射積分強度測定による検討
Bibliographic Information
- Other Title
-
- シリコン , ゲルマニウムタンケッショウ ノ ハサイソウ Xセン 2カイ ハンシャ セキブン キョウド ソクテイ ニ ヨル ケントウ
Search this article
Abstract
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
Journal
-
- 東芝レビュー = Toshiba review / 東芝ビジネスエキスパート株式会社ビジネスソリューション事業部 編集・制作
-
東芝レビュー = Toshiba review / 東芝ビジネスエキスパート株式会社ビジネスソリューション事業部 編集・制作 19 (12), ????-, 1964-12
東京 : 東芝技術企画部
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520854805197689088
-
- NII Article ID
- 40018134235
-
- NII Book ID
- AN00166099
-
- ISSN
- 03720462
-
- NDL BIB ID
- 8332339
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
