低領域標準抵抗器の校正における不確かさの評価
書誌事項
- タイトル別名
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- テイリョウイキ ヒョウジュン テイコウキ ノ コウセイ ニ オケル フ タシカ サ ノ ヒョウカ
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説明
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 地方公共団体 > 都道府県 > 東京都
収録刊行物
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- 研究報告 / 東京都立産業技術研究所 [編]
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研究報告 / 東京都立産業技術研究所 [編] (4), 9-12, 2001-12
東京 : 東京都立産業技術研究所
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521699231014771328
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- NII論文ID
- 40005223944
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- NII書誌ID
- AA11425856
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- ISSN
- 13444867
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- NDL書誌ID
- 6065135
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
