テクノロジー クラック発生によるノイズが引き起こす周波数ジャンプ現象
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- テクノロジー クラック ハッセイ ニ ヨル ノイズ ガ ヒキオコス シュウハスウ ジャンプ ゲンショウ
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- EMC : electro magnetic compatibility : solution technology : 電磁環境工学情報
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EMC : electro magnetic compatibility : solution technology : 電磁環境工学情報 14 (6), 52-56, 2001-10
つくば : [科学情報出版]
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1521980704706441728
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- NII Article ID
- 40004948440
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- NII Book ID
- AN10073620
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- ISSN
- 09162275
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- NDL BIB ID
- 5935323
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles