X線透視によるメモリ素子の特性悪化と回避策
書誌事項
- タイトル別名
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- Xセン トウシ ニ ヨル メモリ ソシ ノ トクセイ アッカ ト カイヒサク
- Characteristic deterioration by X-ray fluoroscopy and workaround about memory device
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収録刊行物
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- 信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability
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信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability 48 175-180, 2018-07
[東京] : [日本科学技術連盟]
