FIB/HVEM observation of the configuration of cracks and the defect structure near the cracks in Si
書誌事項
- タイトル別名
-
- FIB HVEM observation of the configurati
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Journal of electron microscopy
-
Journal of electron microscopy 46 (1), 45-57, 1997
Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1522543653357972992
-
- NII論文ID
- 10008811377
-
- NII書誌ID
- AA00697060
-
- ISSN
- 00220744
-
- NDL書誌ID
- 4163672
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles
