表面・薄膜物理学 原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法

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  • ヒョウメン ・ ハクマク ブツリガク ゲンシ テクノロジー ノ ゲンリュウ(ダイ13ショウ)RHEEDレイキXセン ゼン ハンシャカク ブンコウホウ ノ カイハツ ト オウヨウ(2)アタラシイ ヒョウメン ゲンソ フカサ ブンプ ソクテイホウ

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  • 金属

    金属 83 (3), 240-250, 2013-03

    東京 : アグネ技術センター

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