Examination of the ambient effects on the stability of amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistors using a laser-glass-sealing technology

Search this article

Description

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他

Journal

Details 詳細情報について

Report a problem

Back to top