Time-of-Flight法およびTransient Photodecay法により導出された非晶質As2Se3の局在準位について--表面準位の影響
書誌事項
- タイトル別名
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- Time of Flightホウ オヨビ Transient Photodec
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抄録
記事分類: 印写工学
収録刊行物
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- 電子写真学会誌
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電子写真学会誌 29 (2), p118-124, 1990
東京 : 電子写真学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1523951029561280640
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- NII論文ID
- 40004298002
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- NII書誌ID
- AN00261409
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- ISSN
- 0387916X
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- NDL書誌ID
- 3669388
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles