角度分解光電子分光法による深さ方向組成分析の高精度化の試み
Bibliographic Information
- Other Title
-
- カクド ブンカイ コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル フカサ ホウコウ ソセイ ブンセキ ノ コウセイドカ ノ ココロミ
- New approach to highly accurate depth profiling using angle-resolved photoelectron spectroscopy
- 特集 極薄膜の深さ方向分析
- トクシュウ キョクハクマク ノ フカサ ホウコウ ブンセキ
Search this article
Journal
-
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
-
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 28 (11), 620-625, 2007-11
東京 : 日本表面科学会
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1524232505511469184
-
- NII Article ID
- 10019784350
-
- NII Book ID
- AN00334149
-
- ISSN
- 03885321
-
- NDL BIB ID
- 9265491
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
