Determination of image aberrations in high-resolution electron microscopy using diffractogram and cross-correlation methods

被引用文献1件

収録刊行物

  • Optik

    Optik 99 155-166, 1995

被引用文献 (1)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1570854176718066944
  • NII論文ID
    80008390813
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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