組込み制御用ソフトウェア次世代テスト・デバッグシステム

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書誌事項

タイトル別名
  • The testing and debugging system for embedded systems using concurrent programs

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説明

組み込み制御用ソフトウェアは通常、並行プログラムとして記述される。並行プログラムに対するテスト・デバッグの難しさは、ある操作に対して一度テストを行って、不具合が発生しなかったからといって、その操作の正当性が保証されないという点にある。また不具合の原因究明においても不具合が再現されにくいという点が大きな問題である。本稿ではこのような「再現性のない不具合」と呼ばれる並行プログラム特有の問題点を解決するために開発された、Javaを対象としたテスト・デバッグ支援システムの概要、及びその背景にある技術について述べる。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1570854177222557824
  • NII論文ID
    110002931819
  • NII書誌ID
    AN10112981
  • ISSN
    09196072
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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