Stoichiometry Control of A〓Nx on DC Bias Voltage in RF-DC Coupled Magnetron Sputtering

  • Okamoto T
    Faculty of Engineering. Hiroshima Institute of Technology
  • Higashi T
    Faculty of Engineering. Hiroshima Institute of Technology
  • Mineoka K
    Faculty of Engineering. Hiroshima Institute of Technology
  • Tanaka T
    Faculty of Engineering. Hiroshima Institute of Technology
  • Kawabata K
    Faculty of Engineering. Hiroshima Institute of Technology

Bibliographic Information

Other Title
  • RF-DC結合形マグネトロンスパッタ法によるA〓Nx薄膜の組成制御

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Description

前報においてRF-DC結合形マグネトロンスパッタ法は、ターゲットに印加するDC電圧により、金属薄膜(W,Mo)の堆積速度が容易に制御可能なことを明らかにした。近年AlNは絶縁性に優れ熱伝導性が高く、広い波長域にわたって透明であることから、電子光機能材料として注目される。本研究ではRF-DC結合形マグネトロンスパッタ法の特徴を利用して、反応スパッタによりAlNx薄膜の堆積速度及び組成制御を試みたので、その結果について親告する。

Journal

Details 詳細情報について

  • CRID
    1570854177405978880
  • NII Article ID
    110003342395
  • NII Book ID
    AN10489017
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • CiNii Articles

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