A/Dコンバータのアパーチャジッタ測定の新手法の提案

  • 源代 裕治
    ソニー株式会社セミコンダクターカンパニー

書誌事項

タイトル別名
  • A proposal of an aperture jitter measurement method
公開日
1995-09-05
公開者
一般社団法人電子情報通信学会

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説明

ADCのアパーチャジッタ(以下Apj)の測定で、従来用いられている手法(参考文献[1])は、いくつかの原理的問題を含んでいる。図1に測定系を示す。従来は入力周波数fiとクロック周波数fcに、PLLをかけて厳密に同じ値を設定していた。そして、ADCの出力コードのばらつきの標準偏差を時間に換算しApjを求めていた。この手法の問題点は、APjが出力コード分布で測れるぼど大きいことが、ほとんどないことである。そのため測定結果が、fiとfcの微妙な位相関係により大きく異なるし、ADCの高周波での微分直線性(DCでのそれに比べて相当悪化している)にも依存することになる。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1571698602336446592
  • NII論文ID
    110003342544
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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