TEMセルによる電界プローブの校正

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タイトル別名
  • Field Probe Calibration by using TEM cell

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説明

電磁界放射イミュニティ試験において, 試験電界強度を校正するために電界プロープが使用されるが, この電界プローブ本体も定期的に校正する必要がある. 本報告では,0.1〜1000MHzの周波数範囲で電界プローブを校正するためのTEMセル装置の試作開発を行ったのでその概要を報告する. 試作開発したTEMセルの特性は, 周波数帯域により平行平板または電波暗室で発生させた標準電界のもとで電界プローブの値付けし, これによりTEMセルの電界値を確認した. さらに, 同一電界プローブをG-TEMセルでも校正実験を行うことにより比較した. その結果, 試作開発したTEMセルにより, ±0.5〜1.5dB 程度の偏差で値付けができることが確認された.

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1571980075182475904
  • NII論文ID
    10016069354
  • NII書誌ID
    AN10013108
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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