位相シフト法による波長走査干渉縞の処理とその形状測定への応用

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タイトル別名
  • Fringe analysis for wavelength-scanning interferometers using phase-shifting method and its application to profilometry

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  • CRID
    1573105975008451072
  • NII論文ID
    10015810201
  • NII書誌ID
    AN10547747
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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