2V/100ns 1T/1C強誘電体メモリアーキテクチャー

  • 平野 博茂
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 本多 利行
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 森脇 信行
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 中熊 哲治
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 井上 敦雄
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 中根 譲治
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 茶谷 茂雄
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所
  • 角 辰己
    松下電子工業(株)京都研究所、電子総合研究所

書誌事項

タイトル別名
  • 2V/100ns 1T/1C Nonvolatile Ferroelectric Memory Architecture with Bitline-Driven Read Scheme & Non-Relaxation Reference Cell

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説明

最近, 携帯端末機器などに低電圧高速動作のマイコン搭載用不揮発性メモリが要望されている. 本稿では, 強誘電体不揮発性メモリの新アーキテクチャーとして, ビット線駆動型読み出し方式とノンリラクゼーションリファレンスセル技術を用いることにより, 2V/100ns動作を可能とした.

収録刊行物

参考文献 (2)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573105977279764736
  • NII論文ID
    110003309667
  • NII書誌ID
    AN10013254
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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