MIL-HDBK-217Fの故障率モデルについて
-
- 三根 久
- (社)関西電子工業振興センター
書誌事項
- タイトル別名
-
- Failure Rate Model of MIL-HDBK-217F
この論文をさがす
説明
「MIL-HDBK-217F : 電子機器の信頼度予測」の故障率モデルでは温度ストレスファクタと電気的ストレスファクタが重要な役割を果たしているが、反応速度モデルからこれらのファクタがどのように誘導されたかを明らかにし、あわせて非斉次ポアソン確率過程としての故障発生則を論じる。
収録刊行物
-
- 電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性
-
電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性 97 (370), 1-6, 1997-11-07
一般社団法人電子情報通信学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1573950402209968512
-
- NII論文ID
- 110003301728
-
- NII書誌ID
- AN10013243
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- CiNii Articles
