D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
書誌事項
- タイトル別名
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- D-10-2 Test generation for open faults by using tests for single stuck-at faults
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会総合大会講演論文集
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電子情報通信学会総合大会講演論文集 2007 (1), 129-, 2007-03-07
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1574231876997641216
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- NII論文ID
- 110006461586
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- NII書誌ID
- AN10471452
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles
