小電力用静電誘導トランジスタ(SIT)の雑音測定(その3) : 低周波雑音の測定

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タイトル別名
  • A noise measurement of static induction transistor for low power communication (part3) : A measurement of low frequency noise

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説明

小電力用静電誘導トランジスタ(SIT)の300Hz〜1MHz帯の低周波雑音を測定した。その結果、平坦雑音領域ではドレイン電流依存性が見られたが、1, f雑音領域では見られなかった。また、ソース長×ソース本数が大きいと、境界周波数も大きくなることが分かった。平坦雑音はチャネル内の熱雑音の影響が支配的であるが、1/f雑音はチャネルの影響が少ない雑音源を持つことが考えられる。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1574231877096240256
  • NII論文ID
    110003190937
  • NII書誌ID
    AN10013108
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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