Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time
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- 難波 一輝
- 千葉大学
書誌事項
- タイトル
- Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time
- 著者
- 難波一輝, 伊藤秀男
収録刊行物
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- Journal of Electronic Testing : Theory and Applications
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Journal of Electronic Testing : Theory and Applications 26 667-677, 2010