Identification of native defects around grain boundary in Pr-doped ZnO bicrystal using electron energy loss spectroscopy and first-principles calculations

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タイトル
Identification of native defects around grain boundary in Pr-doped ZnO bicrystal using electron energy loss spectroscopy and first-principles calculations
著者
佐藤 幸生, 他

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010282256583180684
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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