Measurement of Thin Film Elasticity Using Nanoscopic Contact Resonance of a Flat Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy

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Measurement of Thin Film Elasticity Using Nanoscopic Contact Resonance of a Flat Tip in Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy

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  • CRID
    1010282256906928263
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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