Muon-induced soft error evaluation platform: future prediction based on measurement and simulation
About this project
- Japan Grant Number
- JP19H05664
- Funding Program
- Grants-in-Aid for Scientific Research
- Funding organization
- Japan Society for the Promotion of Science
- Project/Area Number
- 19H05664
- Research Category
- Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
- Allocation Type
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- Single-year Grants
- Review Section / Research Field
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- Broad Section J
- Research Institution
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- Kyoto University
- Project Period (FY)
- 2019-06-26 〜 2024-03-31
- Project Status
- Completed
- Budget Amount*help
- 203,190,000 Yen (Direct Cost: 156,300,000 Yen Indirect Cost: 46,890,000 Yen)
Research Abstract
地上に降り注ぐ二次宇宙線粒子によって生じる一過性の誤動作 (ソフトエラー)が集積システムの信頼性を決める最大要因となっている。デバイスの微細化により、ミューオンが中性子に変わってソフトエラーの主要因となるパラダイムシフトが起こり、急速にエラー率が増加する可能性がある。本研究では、集積システムの信頼性確保に向けて、ミューオン起因のソフトエラーを正しく理解・評価する技術を世界に先駆けて確立し、将来デバイスの信頼性動向を明らかにする。基礎物理現象の把握と実測結果の再現性検証によりシミュレーション技術の精度を格段に高め、将来の集積システムの信頼性確保に貢献する。
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1040566775626711552
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- KAKEN
- IRDB
