SiC 結晶中の積層欠陥の透過電子顕微鏡による構造解析
書誌事項
- タイトル別名
-
- Evaluation of Stacking Faults in SiC Crystal by Transmission Election Microscope
収録刊行物
-
- 千葉工業大学研究報告
-
千葉工業大学研究報告 63 23-28, 2016-01-01
Chiba Institute of Technology
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1050845762945760640
-
- 本文言語コード
- ja
-
- 資料種別
- departmental bulletin paper
-
- データソース種別
-
- IRDB