Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995
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書誌事項
- タイトル
- "Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995"
- 責任表示
- edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
- 出版者
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- Trans Tech Publications
- 出版年月
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- c1995
- 書籍サイズ
- 25 cm
- シリーズ名/番号
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- : set
- pt. 1
- pt. 2
- pt. 3
- pt. 4
- タイトル別名
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- Defects in semiconductors 18
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000793786798720
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- NII書誌ID
- BA27177886
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- ISBN
- 0878497161
- 0878497129
- 0878497137
- 0878497145
- 0878497153
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- sz
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Zürich, Switzerland
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- 分類
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- NDC8: 428.8
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- データソース種別
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- CiNii Books