Materials reliability issues in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A.
書誌事項
- タイトル
- "Materials reliability issues in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A."
- 責任表示
- editors, James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho
- 出版者
-
- Materials Research Society
- 出版年月
-
- c1991
- 書籍サイズ
- 24 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Proceedings of the First MRS Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics
Includes bibliogrpahical references and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000793822837760
-
- NII書誌ID
- BA14185757
-
- ISBN
- 1558991190
-
- LCCN
- 91030404
-
- Web Site
- https://lccn.loc.gov/91030404
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- us
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Pittsburgh, Pa.
-
- データソース種別
-
- CiNii Books