Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination

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書誌事項

タイトル
"Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination"
責任表示
Yoshio Waseda
出版者
  • Springer
出版年月
  • c2002
書籍サイズ
24 cm

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注記

"with 132 figures"

Includes bibliographical references and index

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000793917264896
  • NII書誌ID
    BA58657536
  • ISBN
    9783540434436
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Berlin
  • データソース種別
    • CiNii Books
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