Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials

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書誌事項

タイトル
"Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials"
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Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
出版者
  • Springer Nature Switzerland
  • 3rd ed
出版年月
  • c2018
書籍サイズ
25 cm

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注記

Includes bibliographical references (p. 303-317) and index

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794407011456
  • NII書誌ID
    BB27955071
  • ISBN
    9783319998244
  • LCCN
    2018952623
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/2018952623
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Cham
  • データソース種別
    • CiNii Books
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