CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test

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書誌事項

タイトル
"CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test"
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Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
出版者
  • Springer
出版年月
  • c2008
書籍サイズ
25 cm

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注記

Includes bibliographical references (p. 183-189) and index

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