Power-constrained testing of VLSI circuits
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Power-constrained testing of VLSI circuits"
- 責任表示
- by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi
- 出版者
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- Kluwer Academic
- 出版年月
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- c2003
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references(p. 163- 173) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794538421248
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- NII書誌ID
- BA61930451
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- ISBN
- 140207235X
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston ; London
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- 分類
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- LCC: TK7874.75 .N53
- DC21: 621.3950287
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- データソース種別
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- CiNii Books
