Defects, recognition, imaging and physics in semiconductors, 1999 : proceedings of the eighth International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Narita, Japan, September 15-18, 1999
CiNii
所蔵館 2館
書誌事項
- タイトル
- "Defects, recognition, imaging and physics in semiconductors, 1999 : proceedings of the eighth International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Narita, Japan, September 15-18, 1999"
- 責任表示
- edited by T. Ogawa, M. Tajima
- 出版者
-
- North-Holland : Elsevier
- 出版年月
-
- c2000
- 書籍サイズ
- 27 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
"Special issue of Journal of crystal growth volume 210/1-3"--Back cover
Includes bibliographical references
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130000794825224064
-
- NII書誌ID
- BA54472222
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- ne
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Amsterdam ; Tokyo
-
- データソース種別
-
- CiNii Books