Atom-probe field ion microscopy and its applications

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書誌事項

タイトル
"Atom-probe field ion microscopy and its applications"
責任表示
Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
出版者
  • Academic Press
出版年月
  • c1989
書籍サイズ
24 cm

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注記

Bibliography: p. 275-292

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794982182400
  • NII書誌ID
    BA06995219
  • ISBN
    0120145820
  • LCCN
    63012814
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/63012814
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Boston
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
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