X線表面散乱法を用いた極微パターン形状の定量的評価法の開発
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "X線表面散乱法を用いた極微パターン形状の定量的評価法の開発"
- 責任表示
- 研究代表者 梅野正隆
- 出版者
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- 大阪大学工学部
- 出版年月
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- 1997.3
- 書籍サイズ
- 30 cm
- タイトル別名
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- Xセン ヒョウメン サンランホウ ヲ モチイタ ゴクビ パターン ケイジョウ ノ テイリョウテキ ヒョウカホウ ノ カイハツ
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注記
課題番号: 07555337
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795029042560
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- NII書誌ID
- BB26434051
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [吹田]
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- データソース種別
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- CiNii Books