欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化"
- 責任表示
- 研究代表者 橋詰保
- 出版者
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- [北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター]
- 出版年月
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- 2007.4
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニモトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ
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注記
課題番号: 17360133
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000795711876992
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- NII書誌ID
- BA83084635
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [札幌]
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- データソース種別
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- CiNii Books