Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California
書誌事項
- タイトル
- "Measurement and effects of surface defects and quality of polish : January 21-22, 1985, Los Angeles, California"
- 責任表示
- cosponsor Sira Ltd.--The research association for instrumentation ; Lionel R. Baker, Harold E. Bennett, chairmen/editors
- 出版者
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- SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版年月
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- c1985
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- pbk.
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注記
Includes bibliographies and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796260069504
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- NII書誌ID
- BA23996502
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- ISBN
- 0892525606
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- LCCN
- 85050425
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/85050425
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books
