Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California
書誌事項
- タイトル
- "Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California"
- 責任表示
- John E. Greivenkamp, Matt Young, chairs/editors
- 出版者
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- SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版年月
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- c1989
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
"Sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering."
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796561449728
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- NII書誌ID
- BA24342953
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- ISBN
- 0819402001
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- LCCN
- 89043274
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/89043274
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- データソース種別
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- CiNii Books