Kelvin probe force microscopy : from single charge detection to device characterization
書誌事項
- タイトル
- "Kelvin probe force microscopy : from single charge detection to device characterization"
- 責任表示
- Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors
- 出版者
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- Springer
- 出版年月
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- c2018
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796801587840
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- NII書誌ID
- BB26183199
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- ISBN
- 9783319756868
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- LCCN
- 2018931494
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2018931494
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- sz
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Cham
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- 分類
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- DC23: 530
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- 件名
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- LCSH: Atomic force microscopy
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- データソース種別
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- CiNii Books
- KAKEN