Kelvin probe force microscopy : from single charge detection to device characterization

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書誌事項

タイトル
"Kelvin probe force microscopy : from single charge detection to device characterization"
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Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors
出版者
  • Springer
出版年月
  • c2018
書籍サイズ
25 cm

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