書誌事項
- タイトル
- "Testability concepts for digital ICs : the macro test approach"
- 責任表示
- by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen
- 出版者
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- Kluwer Academic Publishers
- 出版年月
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- c1995
- 書籍サイズ
- 25 cm
- シリーズ名/番号
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- : hard : alk. paper
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注記
Includes bibliographical references (p. 197-205)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796871136000
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- NII書誌ID
- BA27464389
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- ISBN
- 0792396588
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- LCCN
- 95040166
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/95040166
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- ne
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Dordrecht ; Boston
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- 分類
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- LCC: TK7874.65
- DC20: 621.3815/48
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- データソース種別
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- CiNii Books