組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術"
- 責任表示
- 研究代表者 小林大輔
- 出版者
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- [小林大輔]
- 出版年月
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- 2008.3
- 書籍サイズ
- 30 cm
- タイトル別名
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- クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ
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注記
課題番号18560359
研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000796920329216
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- NII書誌ID
- BA85996239
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [相模原]
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- データソース種別
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- CiNii Books
