組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

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書誌事項

タイトル
"組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術"
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研究代表者 小林大輔
出版者
  • [小林大輔]
出版年月
  • 2008.3
書籍サイズ
30 cm
タイトル別名
  • クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ

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注記

課題番号18560359

研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000796920329216
  • NII書誌ID
    BA85996239
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    ja
  • 出版地
    • [相模原]
  • データソース種別
    • CiNii Books
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