Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.
書誌事項
- タイトル
- "Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A."
- 責任表示
- editors, M. Selim Ünlü ... [et al.]
- 出版者
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- Materials Research Society
- 出版年月
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- 2000
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Symposium P, "Optical Microstructural Characterization of Semiconductors," at the 1999 MRS Fall Meeting in Boston, Massachusetts
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797230490624
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- NII書誌ID
- BA47829560
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- ISBN
- 1558994963
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- LCCN
- 00028177
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/00028177
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Warrendale, Pa.
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- データソース種別
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- CiNii Books