Optical fabrication, testing, and metrology : 30 September-3 October 2003, St. Etienne, France

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書誌事項

タイトル
"Optical fabrication, testing, and metrology : 30 September-3 October 2003, St. Etienne, France"
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Roland Gely, David Rimmer, Lingli Wang, chairs/editors ; Sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2004
書籍サイズ
28 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000797240158336
  • NII書誌ID
    BA6859882X
  • ISBN
    0819451363
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash., USA
  • データソース種別
    • CiNii Books
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