書誌事項
- タイトル
- "Influence of temperature on microelectronics and system reliability"
- 責任表示
- Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
- 出版者
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- CRC Press
- 出版年月
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- c1997
- 書籍サイズ
- 26 cm
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注記
Includes bibliographical references (p. 257-291) and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797613111808
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- NII書誌ID
- BA34717597
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- ISBN
- 0849394503
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- LCCN
- 96039038
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/96039038
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boca Raton
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- データソース種別
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- CiNii Books