Optoelectronic metrology : 28-30 September 1998, Ĺańcut, Poland
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書誌事項
- タイトル
- "Optoelectronic metrology : 28-30 September 1998, Ĺańcut, Poland"
- 責任表示
- Jan Owsik, Tomasz Więcek,editors ; Wojciech Skrzeczanowski, Ewa Burdziakowska, co-editors ; organized by Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw(Poland), Central Office of Measures, Warsaw(Poland), Foundation for Industrial and Environmental Science, Rzeszów(Poland)
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1998
- 書籍サイズ
- 28 cm
- シリーズ名/番号
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- : pbk
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797803583360
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- NII書誌ID
- BA60203112
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- ISBN
- 0819436445
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash., USA
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- データソース種別
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- CiNii Books