Optoelectronic metrology : 28-30 September 1998, Ĺańcut, Poland

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書誌事項

タイトル
"Optoelectronic metrology : 28-30 September 1998, Ĺańcut, Poland"
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Jan Owsik, Tomasz Więcek,editors ; Wojciech Skrzeczanowski, Ewa Burdziakowska, co-editors ; organized by Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw(Poland), Central Office of Measures, Warsaw(Poland), Foundation for Industrial and Environmental Science, Rzeszów(Poland)
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1998
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • : pbk

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000797803583360
  • NII書誌ID
    BA60203112
  • ISBN
    0819436445
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash., USA
  • データソース種別
    • CiNii Books
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