超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 谷口研二
- Publisher
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- 大阪大学工学部
- Publication Year
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- 1991.3
- Book size
- 26 cm
- Other Title
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- チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ
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Notes
[課題番号]: 01550248
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797832894720
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- NII Book ID
- BB23090943
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- Text Lang
- ja
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
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- [吹田]
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- Data Source
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- CiNii Books
